STEM @ Notebook｜扫描透射电子显微镜数据驱动研究面临的困难与解决思路

扫描透射电子显微镜（Scanning Transmission Electron Microscope, STEM）是一种特殊类型的透射电子显微镜（Transmission Electron Microscope，TEM），可以在皮米级精度的原子尺度上观察样品的结构和成分。STEM 技术广泛应用于材料科学、生物学、化学等领域，具有巨大的应用潜力，已经成为获得纳米材料原子位置特异性信息不可或缺的工具。

STEM 图像的解析是材料微观结构研究中重要的一环。然而 STEM 的数据量通常较庞大，而人工分析非常耗时且易遗漏细节，结果很难具有统计学意义。长期以来，这些问题阻碍着研究工作的进展。

人工智能数据驱动分析方法在图像识别和生成等领域积累了大量成功经验。与此同时，STEM 仿真技术的进步为批量获取 STEM 显微数据提供了新的思路。目前，仿真技术辅助 STEM 数据驱动的研究策略已被广泛应用于二维材料缺陷检测、图像降噪等任务中。

                                图 1｜STEM 图像降噪

                                图 2｜STEM 缺陷检测

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Notebook 上手实践

如果你对 STEM 仿真技术或是基于 STEM 的 AI 数据驱动分析感兴趣，本期 Notebook 可以帮助你了解 STEM 成像原理，并学习如何通过仿真软件自主生成 STEM 图像。我们还会在 Notebook 中分享典型的 STEM 数据驱动问题、当前的技术难点，以及基于机器学习的解决方案。点击下方图片，即刻了解 STEM 仿真与数据分析

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