主要观点：CMOS 一次性可编程（OTP）存储器基于反熔丝在集成电路中用于存储少量数据，因其成本低且无需额外掩模步骤而被广泛应用，制造商和 IP 供应商称其为“高安全性”存储器难以被攻击者提取数据，但研究结果表明这并不正确，通过被动电压对比（PVC）和聚焦离子束（FIB）技术可提取存储在反熔丝块中的数据位，且展示了在 40nm 节点的商品微控制器上的攻击，能在实际可利用的时间尺度内提取大量敏感数据，仅需一个目标设备。
关键信息：CMOS OTP 存储器基于反熔丝广泛应用；制造商称其高安全但研究否定；可通过特定技术提取数据；在 40nm 节点微控制器上演示攻击；能提取敏感数据及所需时间和设备
重要细节：提交至 USENIX Security 2025；涉及学科为 Cryptography and Security（cs.CR）；ACM 分类为 B.7.0、C.5.4、K.6.5；可引用[arXiv:2501.13276]或[arXiv:2501.13276v1]；有提交历史，v1 版本于 2025 年 1 月 22 日 23:40:21 UTC 提交，大小 8619KB